供应美国NIST微量分析标准物质
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SRM 480 Tungsten 20 % – Molybdenum Alloy Electron Microprobe Standard 钨钼合金电子探针标准 disk
SRM 481 Gold-Silver Wires for Microprobe Analysis 微探针分析用金银丝 set (6)
SRM 482 Gold-Copper Wires for Microprobe Analysis 微探针分析用金铜线 set (6)
SRM 2061 TiAl(NbW) Alloy for Microanalysis 微量分析用TiAl（NbW）合金 cube
SRM 2066 K-411 Glass Microspheres K-411玻璃微球 50 mg 美国NIST微量分析标准物质
SRM 2841 Semiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction x near 0.20) 半导体薄膜：AlxGa1-xAs外延层（Al摩尔分数） 十 接近0.20） disk
SRM 2842 Semiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction x near 0.30) 半导体薄膜：AlxGa1-xAs外延层（Al摩尔分数x接近0.30） disk
SRM 8095 Si1-xGex Films on Si 硅基Si1-xGex薄膜 2 wafers,1 each level
SRM 2483 Single-Wall Carbon Nanotubes (Raw Soot) 单壁碳纳米管（生烟灰） 250 mg